Oct, 2013

利用 Count-Min Sketch 扩展基于图的半监督学习至大量标签

TL;DR本文介绍了 MAD-SKETCH 图半监督学习算法,通过使用 Count-min Sketch 数据结构,可以将每个节点上的标签分布紧凑存储,将空间复杂度从 O (m) 降低到 O (log m),同时在时间复杂度上也获得类似的节省。实验结果表明,MAD-SKETCH 具有与现有最先进的图半监督算法类似的性能,并且在需要更好的空间和时间复杂度时表现出色,如在具有 100 万个标签的数据集中进行缩放。