AAAINov, 2020

SHOT-VAE:带标签 ELBO 逼近的半监督深度生成模型

TL;DR本文探讨了半监督变分自编码器中 ELBO 值较好时推理结果不一定准确的问题,并提出使用带有标签预测损失的平滑 ELBO 以及基于最优插值的逼近方法以提升推理准确性。SHOOT-VAE 在 CIFAR-100 上准确率为 25.30%,在 CIFAR-10 上准确率为 6.11%。