Dec, 2020

基于自训练的领域自适应的双阶段伪标签密集化

TL;DR本研究提出了一种 Two-phase Pseudo Label Densification (TPLD)框架来解决自我训练中的次优模型问题,该框架在处理有序标签方面取得了显着改善,并与现有的CRST自我训练框架相结合,在标准的UDA基准测试上实现了最新的技术成果。