Nov, 2023
缺陷检测中的任意分割
Segment Anything in Defect Detection
Bozhen Hu, Bin Gao, Cheng Tan, Tongle Wu, Stan Z. Li
TL;DR本研究提出了一种针对高噪声热红外图像的缺陷分割新方法 DefectSAM,通过采用广泛采用的模型 Segment Anything(SAM)和精心策划的数据集,有效地提高了缺陷检测率,尤其在复杂和不规则表面上对弱缺陷和小缺陷的检测表现出色,减少了遗漏检测的发生,并提供了更准确的缺陷尺寸估计。实验研究验证了我们解决方案在各种材料上缺陷检测的有效性,具有加速缺陷检测工具演进、提高检测能力和精度的重要潜力。