Dec, 2023

基于光谱的机器学习软故障管理的实验研究

TL;DR我们通过实验比较了不同机器学习算法在软故障管理方面的性能,并引入了一种基于机器学习的软故障管理框架。该框架利用光谱分析仪获取的光谱数据,并运行在变分自动编码器生成对抗网络(VAE-GAN)上。研究结果表明,VAE-GAN 在识别任务中,当可用的训练数据仅为总量的 10%时,表现优于其他机器学习算法。此外,该框架通过先进的训练机制,在未知频谱识别方面显示出很高的 F1 分数。故障定位比较还表明,低复杂度神经网络与 VAE 结合相比于已有的机器学习算法具有优势。