Feb, 2024

自我监督学习全尺寸切片表示的框架

TL;DR自我监督整个切片学习(S3L)框架可以通过利用整个切片的固有区域异质性、组织学特征变异性和信息冗余性来学习高质量的整个切片表示,用于癌症诊断和基因突变预测等诊断任务,并且在两种生物医学显微镜条件下显著优于基线模型。