Jun, 2024

METRIK: 使用输入遮盖的转换器进行高效测量的随机对照试验

TL;DR采用计划失踪设计的研究论文提出了一种名为 METRIK 的框架,该框架能够通过学习输入屏蔽层实现在少量先验数据的基础上计算 RCT 特定的 PMD,从而提高采样效率和填补性能,并将需要手动删除 RCT 中的指标的需求消除。