Sep, 2024

卷积层光谱范数的紧致高效上界

TL;DR本研究解决了卷积操作中雅可比矩阵光谱范数控制的重要性,现有方法往往高估光谱范数或随着输入和内核尺寸的增加而性能迅速下降。论文提出的新的光谱范数上界与输入图像分辨率无关,具有可微性,并且能够在训练过程中高效计算,实验证明可以提升卷积架构的性能。