Sep, 2024

用于自动侧位X射线头影测量标志检测的深度学习技术:问题是否解决?

TL;DR本研究解决了侧位头影图中颅面标志定位的自动化问题,提出了“头影测量标志检测(CL-Detection)”数据集,成为此领域最大的公开数据集。研究显示,最先进的深度学习方法在标志检测上已接近专家分析,平均检测率达到75.719%,为高精度自动定位颅面标志打开了大门,同时也指出了深度学习方法仍存在的不足。