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EVHA: 可解释的视觉系统用于硬件测试与保证 —— 概述
在半导体制造过程中,硬件特洛伊可能会通过添加、删除或更改设计单元的方式在设计计算层上执行攻击。本研究提出了一种称为 EVHA 的系统,它可以通过显式视觉系统在低成本、高准确度和快速的方式下检测元件级别的芯片缺陷和硬件特洛伊。
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2 years ago
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