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industrial defect segmentation
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工业缺陷分割中卷积神经网络的位移等效性研究
在工业缺陷分割任务中,常用的度量指标是像素精度和交并比 (IoU),然而模型的输出一致性 (或等效性) 经常被忽视。本文提出了一种全新的上 / 下采样层对抗 CNN 中传统采样层的不足,并通过自适应窗口模块和组件注意力模块来改善图像边界变化
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9 months ago
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