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projection options
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紧支持上的对数凹采样:一个通用的近端框架
提出了一个支持各种投影选项的通用近端框架,基于凸紧致支撑体上定义的强对数凹分布进行采样,并与多种采样方法无缝集成,主要研究集中在约束采样的 Langevin 型采样算法,提供了 W1 和 W2 误差的非渐进上界,详细比较了这些方法在约束采样
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a month ago
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