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scanning tunneling microscopy
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利用集成深度学习在 TMDs 的 STM 中检测原子尺度表面缺陷
通过使用一组类 U-Net 的卷积神经网络,在单晶 WSe2 的扫描隧道显微镜图像中展示了原子尺度的缺陷检测。标准的深度学习测试指标表明具有良好的检测性能,平均 F1 得分为 0.66,并展示了对 WSe2 的 C-AFM 图像和 MoSe
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7 months ago
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