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基于二维正弦图的计算机断层成像中的缺陷定位方法
该论文介绍了深度学习在计算机断层成像领域的应用,提出了一种基于三步深度学习算法的综合缺陷检测方法,包括缺陷分割、蒙版分离和缺陷分析。使用 U-Net 架构进行缺陷分割,在模拟数据上达到 92.02%的 IoU,并在 512 像素宽的探测器上
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5 months ago
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