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晶片地圖缺陷模式半監督分類使用潛在向量表示
这篇论文提出了一种利用预训练的 VAE 模型获取晶圆图故障分布信息,并结合原始图像集进行半监督模型训练的方法。通过师生网络的迭代学习,该模型在 WM-811K 晶圆数据集上验证得到了卓越的分类准确性和检测性能,实现了对工业应用的要求,并在性
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9 months ago
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