Apr, 2023

使用特征对应分析的高保真零样本纹理异常定位

TL;DR提出了一种基于 1 维 Wasserstein 距离的零样本异常定位方法,通过汇总像素对所有附近补丁的误差贡献,可以更精确地定位纹理中的异常区域,并在多个数据集上验证了该方法,零样本背景下在 MVTec AD 数据集上的错误率降低超过 40%。