May, 2023
实时缺陷检测数据生成中 X 射线散射效应的量化研究
Quantifying the effect of X-ray scattering for data generation in real-time defect detection
Vladyslav Andriiashen, Robert van Liere, Tristan van Leeuwen, K. Joost Batenburg
TL;DR通过对 X-ray 扫描中 X-ray 散射算法的定量评估,对比了在包含和不包含散射信号的情况下进行训练后,采用深度卷积神经网络(DCNN)进行 defect detection 的准确性。结果表明,不包含散射信号的训练数据对最小可检测缺陷的大小具有最大影响,更高质量的训练数据可以更好地处理高量散射图像的准确检测。