Jun, 2023
基于极化飞行时间法的散射介质高保真度深度测量
Polarimetric iToF: Measuring High-Fidelity Depth through Scattering Media
Daniel S. Jeon, Andreas Meuleman, Seung-Hwan Baek, Min H. Kim
TL;DR本文提出了一种极化 iToF 成像方法,可以通过散射介质强有力地捕获深度信息,通过散射分析而估计出参与介质中的散射能量,我们的方法通过散射模型和极化相位测量,优于基线方法。