Aug, 2023

自旋电子学用于图像识别:通过超快数据驱动模拟进行性能基准测试

TL;DR通过使用数据驱动的模拟框架,我们展示了利用基于旋涡磁性自转振荡器(STVO)的自旋电子学纳米结构进行图像分类的硬件基础脉冲网络(ESN)的演示。通过模拟 STVO 动力学,我们有效地开发、优化和测试了基于 STVO 的 ESN,用于使用 MNIST 数据集进行图像分类。我们展示了我们解决 EMNIST 字母和时尚 MNIST 数据集的分类挑战的灵活性。尽管我们的模型在 MNIST 数据集上实现了最先进的准确性水平,但在 EMNIST 字母和时尚 MNIST 上的性能较低,这是由于系统架构的相对简单性和任务复杂性的增加。我们期望 DD-TEA 框架将有助于探索更专门的神经架构,最终提高分类准确性。这种方法还有望用于研究和开发专用的学习规则,以进一步提高分类性能。