MMMar, 2024

分而治之:通过内存高效瓦片集成进行高分辨率工业异常检测

TL;DR工业异常检测是计算机视觉中的重要任务,其实际用途广泛。为了解决处理高分辨率图像时出现的内存消耗问题,本文引入了块状集合的方法,在不修改底层架构的情况下,将输入图像划分为网格状瓦片,并为每个位置训练一个专用模型。通过引入重叠瓦片,利用传统的堆叠集合的优势,进一步提高了异常检测能力。实验证明,我们的方法在满足 GPU 内存限制的情况下,在 MVTec 和 VisA 两个标准异常检测数据集上取得了显著的改进。