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crystalline defects
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TEM 图像中晶体缺陷的深度学习:解决 “训练数据永远不够” 的问题
本研究提出了用于分割位错的合成训练数据的参数模型,并开发了一种优化分割重叠或相交位错线的深度学习方法,该方法在多种微结构和成像条件下都表现出高效性和优越性。
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