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defect classification
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利用 VLM-LLM 特征进行渐进对齐以增强 ASE 数据集中的缺陷分类
我们提出了 ASE 数据集,其中包含丰富的图像数据描述,用于缺陷分类,但缺陷特征难以直接学习。我们通过使用专门的视觉语言模型(VLM)和大型语言模型(LLM)的惊人零样本能力,为差异分类问题提供了解决方案。我们通过在图像中激活额外的多模态特
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3 months ago
基于深度学习的扫描电子显微镜图像缺陷分类和检测:一种 Mask R-CNN 方法
本研究展示了将深度学习算法 Mask-RCNN 应用于半导体缺陷检测领域,通过改进缺陷实例分割技术,成功地检测和分割在半导体制造过程中不同类型的随机缺陷图案,并且可以精确计算缺陷表面积和数量。
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2 years ago
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