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无监督与监督学习相结合的显微镜技术实现对整片 4H-SiC 晶片缺陷分析
通过融合各种图像分析和数据挖掘技术,我们在这项工作中创建了一个强大且准确的自动化图像分析流水线,用于提取显微图像中 KOH 刻蚀的 4H-SiC 晶片的所有缺陷的类型和位置。
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4 months ago
显微镜图像分类的多领域学习卷积神经网络模型
本文提出了一种多领域学习架构用于显著不同的显微镜图像的分类,使用新的优化技术规范训练期间的潜在特征空间来提高网络性能。通过在三个不同的公共数据集上进行评估,该分类器优于现有技术,对有限标记数据稳健,并且切换到新实验时帮助消除设计新网络的负担
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a year ago
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