May, 2024

基于芯片监测器的最小工作电压可靠区间预测

TL;DR为提高制造测试流程,确保现场系统的长期可靠性和安全性,本文提出了一种新的无分布假设的最小操作电压($V_{min}$)区间估计方法,利用基于仿射量化回归和芯片内监测器生成可靠的预测区间,该方法在工业 5nm 汽车芯片数据集上表现良好,同时展示了芯片内监测器减小 $V_{min}$ 预测区间长度的效果。